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基片斜切角度對YBCO薄膜微觀結構及超導電性能的影響
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O484.1

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Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films
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    研究基片斜切角度對YBCO薄膜微觀結構及超導電性能的影響。采用脈沖激光沉積（PLD）法在0°～6°斜切（001）SrTiO3基片上制備了具有c取向的YBCO薄膜。用XRD和TEM對薄膜微觀結構進行了分析，用標準四引線法測定薄膜電阻．溫度關系，從而確定薄膜的超導電性能。結果表明，隨斜切角度的增大，薄膜晶體質(zhì)量下降，晶格彎曲畸變程度增大，超導臨界轉變溫度降低，轉變寬度增大。

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引用本文

王天生 田永君 彭煒 漆漢宏 李林.基片斜切角度對YBCO薄膜微觀結構及超導電性能的影響[J].稀有金屬材料與工程,2007,36(5):862~864.[Wang Tiansheng, Tian Yongjun, Peng Wei, Qi Hanhong, Li Lin. Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(5):862~864.]
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  • 最后修改日期:2006-03-04
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