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淺H3PO4液層下YBCO高溫超導薄膜表面粗糙度的紅外實時表征
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O511.3 TN219

基金項目:

國家自然科學基金(60277008);國家863基金(2002AA306421);電子科大校青年基金項目(JX05010)


Real Time Characterization of Surface Roughness of YBCO HTS Film under Thin H3PO4 Layer
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    摘要:

    提出利用紅外熱像實時監(jiān)測系統(tǒng),實時獲得在YBCO高溫超導薄膜上H3PO4腐蝕淺液層的紅外灰度數(shù)值分布,并以淺液層熱交換簡化模型為基礎,通過歸一化紅外灰度標準差值表征YBCO高溫超導薄膜表面粗糙度的變化。理論分析與實驗結果均表明,由歸一化紅外灰度標準差值的變化曲線,可以清楚展現(xiàn)YBCO高溫超導薄膜表面粗糙度增大、減小以及趨于平緩的3個階段,并能直接獲得每個階段所對應的時間。在本實驗條件下,表面粗糙度在8s時達到最大值,然后逐漸下降,到40s時開始趨于穩(wěn)定。淺液層條件下的YBCO高溫超導薄膜表面粗糙度的成功觀測,是一個重要的階段目標,為最終解決YBCO高溫超導薄膜濕法刻蝕中粗糙度的實時監(jiān)測難題奠定了良好基礎。

    Abstract:

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引用本文

劉娟秀,羅正祥,羊愷,劉霖,補世榮,張?zhí)炝?葉玉堂.淺H3PO4液層下YBCO高溫超導薄膜表面粗糙度的紅外實時表征[J].稀有金屬材料與工程,2007,36(11):1951~1954.[. Real Time Characterization of Surface Roughness of YBCO HTS Film under Thin H3PO4 Layer[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(11):1951~1954.]
DOI:[doi]

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  • 最后修改日期:2006-12-31
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