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制備工藝及參數(shù)對TbCo薄膜垂直磁各向異性能的影響
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O484.43

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湖北省自然科學(xué)基金資助項目(2005ABA041)


Influence of Processing and Parameters on the Perpendicular Magnetic Anisotropy Energy of TbCo Films
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    采用射頻磁控濺射法制備了TbCo非晶垂直磁化膜,并就制備工藝及參數(shù)對其磁各向異性能的影響進行了研究。結(jié)果表明:磁性層組分、濺射氣壓、基片偏壓以及后退火溫度對TbCo非晶垂直磁化膜的磁各向異性能都有不同程度的影響。當Tb含量為30%左右,或濺射氣壓為0.53Pa時,TbCo薄膜的磁各向異性能Ku會呈現(xiàn)極大值。基片偏壓超過-60V以后,TbCo薄膜虬值開始顯著上升,但超過-120V以后,Ku值開始趨向飽和。200℃以上真空退火會使TbCo薄膜磁各向異性能凰值明顯下降。產(chǎn)生這些現(xiàn)象的原因與薄膜微觀結(jié)構(gòu)的改變有關(guān)。

    Abstract:

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    引證文獻
引用本文

黃致新,章平,張玉龍,王輝,吳斌,張鋒,李佐宜.制備工藝及參數(shù)對TbCo薄膜垂直磁各向異性能的影響[J].稀有金屬材料與工程,2007,36(11):1947~1950.[. Influence of Processing and Parameters on the Perpendicular Magnetic Anisotropy Energy of TbCo Films[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(11):1947~1950.]
DOI:[doi]

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  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2007-01-18
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