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不同偏壓下鈾表面多弧離子鍍TiN薄膜性能研究
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TG170.3

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中國工程物理研究院NSAF基金(10176005)資助


Properties of TiN Films on Uranium Surface by Arc Ion Plating under Different Bias Voltages
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    摘要:

    不同偏壓下利用多弧離子鍍技術(shù)在U基體上制備了TiN薄膜。利用X射線衍射(XRD)分析了薄膜的微觀組織結(jié)構(gòu),用掃描電鏡(SEM)觀察其表面形貌。結(jié)果表明:所得薄膜為單一TiN結(jié)構(gòu),薄膜表面平整、致密,但局部仍存在大顆粒。摩擦磨損實(shí)驗(yàn)測定了薄膜的磨損性能。隨偏壓的上升,摩擦系數(shù)由0.421變?yōu)?.401。同時利用X射線光電子能譜分析儀(XPS)對濕熱腐蝕20d后的樣品進(jìn)行了分析,并利用電化學(xué)極化實(shí)驗(yàn)在0.5μg/g CT溶液中測試了基體及薄膜耐蝕性能。結(jié)果表明:TiN涂層提高了貧鈾的抗腐蝕性能。

    Abstract:

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引用本文

劉天偉 鮮曉斌 武勝 董闖.不同偏壓下鈾表面多弧離子鍍TiN薄膜性能研究[J].稀有金屬材料與工程,2006,35(9):1437~1440.[Liu Tianwei, Xian Xiaobin, Wu Sheng, Dong Chuang. Properties of TiN Films on Uranium Surface by Arc Ion Plating under Different Bias Voltages[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2006,35(9):1437~1440.]
DOI:[doi]

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歷史
  • 收稿日期:2005-08-24
  • 最后修改日期:2005-08-24
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