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納米復(fù)合薄膜特異電容機制探討
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TG113.1

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Origin of the High Capacity of Self-Assemble Nano-Composite Thin Film
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    摘要:

    TFDC（Thomas-Fermi-Dirac-Cheng）electron theory用于分析討論了納米復(fù)合薄膜二極層中電子的特性。根據(jù)TFDC電子理論研究和實驗測試提出了納米復(fù)合薄膜二極層特異電容產(chǎn)生的機制。

    Abstract:

    TFDC (Thomas-Fermi-Dirac-Cheng) electron theory is applied to analyzing the characteristics of the electrons inside the double layer of the nanometer composite thin films. This paper proposes the new mechanism about the high capacity in both theoretical analysis and experimental measurement.

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引用本文

程開甲 程漱玉 林東升 肖剛.納米復(fù)合薄膜特異電容機制探討[J].稀有金屬材料與工程,2006,35(11):1681~1685.[Cheng Kaijia, Cheng Shuyu, Lin Dongsheng, Xiao Gang. Origin of the High Capacity of Self-Assemble Nano-Composite Thin Film[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2006,35(11):1681~1685.]
DOI：[doi]

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歷史
  • 收稿日期:2006-06-16
  • 最后修改日期:2006-06-16
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  • 出版日期: