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氨化硅基Ga2O3/Al2O3制備GaN薄膜性質(zhì)研究
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中圖分類號(hào):

TN304

基金項(xiàng)目:

國家自然科學(xué)基金重大研究計(jì)劃(90201025)和國家自然科學(xué)基金(60071006)資助項(xiàng)目


Characteristics of GaN Film Prepared by Ammoniating Ga2O3/Al2O3 Deposited on Si(111) Substrate
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    摘要:

    研究了Ga2O3/Al2O3膜反應(yīng)自組裝制備GaN薄膜。首先利用磁控濺射法在硅襯底上制備Ga2O3/Al2O3膜,再將Ga2O3/Al2O3膜在高純氨氣氣氛中氨化反應(yīng)得到GaN薄膜。用傅里葉紅外譜儀(FTIR),X射線衍射(XRD)和掃描電鏡(SEM)對(duì)試樣進(jìn)行結(jié)構(gòu)、組分和形貌分析。通過分析薄膜各方面的性質(zhì),得出了用此方法制備氮化鎵薄膜的Al2O3緩沖層最佳的厚度為15nm左右,最佳氨化條件是在900℃下氨化15min。

    Abstract:

    參考文獻(xiàn)
    相似文獻(xiàn)
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引用本文

魏芹芹 薛成山 孫振翠 莊惠照 王書運(yùn).氨化硅基Ga2O3/Al2O3制備GaN薄膜性質(zhì)研究[J].稀有金屬材料與工程,2005,34(5):746~749.[Wei Qinqin, Xue Chengshan, Sun Zhencui, Zhuang Huizhao, Wang Shuyun. Characteristics of GaN Film Prepared by Ammoniating Ga2O3/Al2O3 Deposited on Si(111) Substrate[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2005,34(5):746~749.]
DOI:[doi]

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歷史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2003-11-04
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