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TiO2和CeO2單晶納米結(jié)構(gòu)掃描隧道顯微鏡研究
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TN304.21

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    納米結(jié)構(gòu)材料的研究要求高分辨率的分析手段。英國牛津大學(xué)H．Nrenberg利用掃描隧道顯微鏡（STM）對TiO２和CeO２單晶納米表面結(jié)構(gòu)進行了研究。TiO２金紅石晶片由CrystalGmbHBerlin提供，稀土CeO２晶片由國際晶體實驗公司提供。STM分析在超高真空的STM４５０XT上進行。為了保證分析晶片表面化學(xué)純清潔度，其表面要經(jīng)俄歇電子（AES）和X射線光電子（XPS）照射，要用低能電子衍射（LEED）和背反射高能電子衍射（RHEED）大范圍檢查。在超高真空下退火獲得的金屬氧化物晶片，首先要除去其表面的污染，其次要求試樣要導(dǎo)電。因提…

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引用本文

蒲正利. TiO2和CeO2單晶納米結(jié)構(gòu)掃描隧道顯微鏡研究[J].稀有金屬材料與工程,2003,(2):125.[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2003,(2):125.]
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