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低能離子束轟擊對(duì)Ti和Ti—N膜組織與性能的影響
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TG174.444

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廣東省高教廳基金項(xiàng)目 (970 0 3 2 )


The Influence of Low-Energy Ion Beams Bombardment on Microstructure and Properties of Ti and Ti-N Films
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    摘要:

    研究了用能量為3.0keV-4.0keV,束流為80mA-200mA的低能氮和氬離子束對(duì)Ti膜進(jìn)行轟擊的作用以及用低能氮離子束對(duì)真空電弧沉積Ti-N膜層輔助沉積作用。結(jié)果表明:用低能氮離子束對(duì)Ti膜進(jìn)行轟擊可以形成Ti2N相,在(204)晶面出現(xiàn)一定的擇優(yōu)取向,并對(duì)Ti膜層有一定的強(qiáng)化作用;在低能氮離子束對(duì)真空電弧輔助沉積過(guò)程中,膜層表現(xiàn)為較高的顯微硬度;隨低能離子束能量的增大,真空電弧沉積膜層中Ti2N相增多,在(002)晶面出現(xiàn)擇優(yōu)取向,膜層晶粒有粗化的趨勢(shì),但顯微硬度卻增加,這與Hall-Petch公式不符。

    Abstract:

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引用本文

曾鵬 胡社軍 等.低能離子束轟擊對(duì)Ti和Ti—N膜組織與性能的影響[J].稀有金屬材料與工程,2002,(3):175~178.[Zeng Peng, Hu Shejun, Xie Guangrong, Huang Nacan, Wu Qibai. The Influence of Low-Energy Ion Beams Bombardment on Microstructure and Properties of Ti and Ti-N Films[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2002,(3):175~178.]
DOI:[doi]

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  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2000-11-24
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