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光譜法測定鈦及鈦合金中的微量雜質(zhì)元素
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TG146.23

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Spectral Determination of Trace Impurity Elements in Ti and Its Alloys
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    摘要:

    采用發(fā)射光譜分析技術(shù),研究了鈦及鈦合金中Zr,Ru,Pd,Hf,Cu,Y,V,Mo,Nb,Al,Co,Ni,Ta,Bi,Sn,Cr,Mn的光譜測定方法。結(jié)果表明,選用碳粉作為緩沖劑,使用淺孔電極和大電流激發(fā),一次攝譜可同時測定17個雜質(zhì)元素。測定下限為3×10-4%～15×10-3%,相對偏差在15%以內(nèi)。

    Abstract:

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引用本文

胡文珍.光譜法測定鈦及鈦合金中的微量雜質(zhì)元素[J].稀有金屬材料與工程,2000,(1):64~67.[Hu Wenzhen. Spectral Determination of Trace Impurity Elements in Ti and Its Alloys[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2000,(1):64~67.]
DOI：[doi]

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