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高純鎢中雜質(zhì)元素的化學(xué)光譜法測定
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O653.7

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Methods for the Determination of the Trace Impurities in High Purity Tungsten by Chemical Spectrometry
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    摘要:

    采用以一定比例的ＨＮＯ３和ＨＣｌ為介質(zhì)，使鎢沉淀成鎢酸與雜質(zhì)分離，然后用碳粉吸附雜質(zhì)再進(jìn)行光譜測定的方法，對高純鎢（包括金屬鎢、三氧化鎢、鎢酸、鎢酸銨）中１５個雜質(zhì)元素Ｆｅ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｖ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｃａ、Ｍｓ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｂｉ、Ｃｄ、Ｂｅ進(jìn)行了測定，取得了理想的結(jié)果，測定下限可達(dá)（０．１～０．５）×１０（－６）。

    Abstract:

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引用本文

余國華,陳覺.高純鎢中雜質(zhì)元素的化學(xué)光譜法測定[J].稀有金屬材料與工程,1994,(5).[Yu Guohua, Chen Jue. Methods for the Determination of the Trace Impurities in High Purity Tungsten by Chemical Spectrometry[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1994,(5).]
DOI：[doi]

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