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應(yīng)用微計(jì)算機(jī)的全極圖測定數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)——APPLEⅡ微機(jī)外圍設(shè)備接口的研制
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    本文介紹在X射線衍射儀上應(yīng)用微型計(jì)算機(jī)測定全極圖數(shù)據(jù)處理的系統(tǒng),敘述了APPLEⅡ輸入輸出接口的研制,對(duì)全極圖測定過程及BASIC語言程序作了扼要的分析。

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引用本文

喻永進(jìn).應(yīng)用微計(jì)算機(jī)的全極圖測定數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)——APPLEⅡ微機(jī)外圍設(shè)備接口的研制[J].稀有金屬材料與工程,1986,(5).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1986,(5).]
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