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直接光譜法測定TC4鈦合金中雜質(zhì)元素
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    摘要:

    本文采用載體分餾直接光譜法,以氯化銀和碳粉混合物作載體,通過直流電弧,陽極激發(fā),在一個譜板上一次完成合金中11個雜質(zhì)元素的分析。測定靈敏度一般為5×10~(-5)%—1×10~(-3)%,單次測定均方偏差為±8%—±19%。

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引用本文

余國華,王玉芝.直接光譜法測定TC4鈦合金中雜質(zhì)元素[J].稀有金屬材料與工程,1983,(4).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1983,(4).]
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