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近代物理分析技術(shù)—國內(nèi)的應(yīng)用概況和近年進展(續(xù))
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    四、成份分析技術(shù) 4.1 X射線能譜的無標(biāo)樣定量分析電子探針儀是一種常規(guī)的微區(qū)成份分析儀器,它主要是利用電子束去激發(fā)試樣產(chǎn)生X射線譜,然后依據(jù)莫塞萊定律去分析試樣的成份。按測量的物理量分,可以分為X射線光譜分析法(WDAX)和X射線能譜分析法(EDAX)兩種,其中能譜分析法具有檢測效率高、分析速度快、在兩三分鐘內(nèi)就能完成全元素的同時分析等優(yōu)點,因而受到重視。

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引用本文

廖乾初.近代物理分析技術(shù)—國內(nèi)的應(yīng)用概況和近年進展(續(xù))[J].稀有金屬材料與工程,1981,(6).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1981,(6).]
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