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鈦的有機涂層厚度的測量
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    本文確定和解釋了用渦流法測量鈦上有機涂層厚度時層厚測量儀產生誤差的原因;用光截面法糾正了渦流層厚測量儀的讀數(shù);進而擬定了測量條件和技術。

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引用本文

S. Sekowki,趙軍.鈦的有機涂層厚度的測量[J].稀有金屬材料與工程,1981,(1).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1981,(1).]
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