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衍射儀測定晶體取向方法的改進(jìn)
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    摘要:

    由于實(shí)際晶體具有各向異性的物理,化學(xué)性能。研究單晶體性能的各向異性對于應(yīng)用晶體的某些性能和了解多晶聚合體的特殊性能來說都是不可缺少的工作,這些工作都需要首先測定晶體的取向。因此測定晶體取向工作有著廣泛的應(yīng)用。確定晶體取向的方

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    相似文獻(xiàn)
    引證文獻(xiàn)
引用本文

.衍射儀測定晶體取向方法的改進(jìn)[J].稀有金屬材料與工程,1976,(6).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1976,(6).]
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