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高溫熔點(diǎn)膨脹系數(shù)和電阻率的測定
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    摘要:

    在自制的高溫物性綜合測定儀上,測定了難熔金屬(鎢、鉬、鉭)的熔點(diǎn)、膨脹系數(shù)和電阻率。采用直接通電的方法加熱試樣;用顯微光學(xué)高溫計(jì)測定試樣的溫度。熔化是以黑體腔底的突然變黑為準(zhǔn)。以穿透試樣的小孔作為測定膨脹系數(shù)時(shí)的長度標(biāo)記,用垂高計(jì)測定有效區(qū)段在每一溫度下的精確長度。用交流電位差計(jì)測定通過試樣的電流及有效區(qū)段的電壓降,以便算得電阻。測定了鎢的熔點(diǎn),鎢、鉬的膨脹系數(shù)和鉭、鉬的電阻率。鎢的熔點(diǎn)值為3401℃,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)誤差0.9%;膨脹系數(shù)測定的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)誤差不大于4%;電阻率測定的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)誤差不大于2%。

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引用本文

.高溫熔點(diǎn)膨脹系數(shù)和電阻率的測定[J].稀有金屬材料與工程,1974,(3).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1974,(3).]
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