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針對(duì)TA15鈦合金T形截面環(huán)鍛件探傷時(shí)局部出現(xiàn)的底波衰減現(xiàn)象,進(jìn)行了顯微組織與超聲波衰減關(guān)系的研究。利用光學(xué)顯微鏡對(duì)底波衰減強(qiáng)度不同區(qū)域進(jìn)行了顯微組織對(duì)比,利用電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)表征不同超聲底波強(qiáng)度區(qū)域α相的晶體取向分布及規(guī)律,并對(duì)晶體取向占比進(jìn)行了統(tǒng)計(jì),探討了底波衰減的根本原因。結(jié)果表明,底波衰減部位對(duì)應(yīng)的條狀α相數(shù)量多,其方向與超聲波傳遞方向平行,這些條狀α相對(duì)應(yīng)(0001)晶面,導(dǎo)致超聲波的傳播方向與晶體c軸垂直,材料散射作用較強(qiáng),底波衰減明顯。此外,底波衰減部位β轉(zhuǎn)變組織中次生片狀α相呈雜亂交錯(cuò)排列,也會(huì)降低探傷水平。