摘要:對X射線熒光光譜法(XRF)和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)測定TC4鈦合金中鋁含量的不確定度進(jìn)行系統(tǒng)分析,在得出合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度和擴展標(biāo)準(zhǔn)不確定度的同時,對比兩種方法測量不確定度的主要來源。結(jié)果顯示:XRF法的測定結(jié)果為5.95%,擴展不確定度為0.15%,最主要的不確定度分量來自標(biāo)準(zhǔn)樣品本身;ICPAES法的測定結(jié)果為5.98%,擴展不確定度為0.13%,其中,測量重復(fù)性和校準(zhǔn)曲線回歸的不確定度分量對擴展不確定度的貢獻(xiàn)最大。綜合對比分析,兩者定量結(jié)果及可靠性一致,均能很好的應(yīng)用于TC4鈦合金中鋁含量的測定。