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鈦合金材料OIM試樣的電解拋光及制備工藝
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中圖分類號(hào):

TG175

基金項(xiàng)目:

國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目（50271016）


The Electropolishing and Preparation Process of Titanium-alloy Metallographic Specimen for OIM Testing
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    摘要:

    由于鈦合金材料強(qiáng)度硬度較高，機(jī)械拋光通常不能去除試樣表面的殘余應(yīng)變層，因而采用電解拋光是制備電子背散射衍射試樣的理想方法。本研究通過正交試驗(yàn)進(jìn)行優(yōu)選，并對(duì)優(yōu)選的電解拋光工藝參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，制定出了鈦合金電子背散射衍射試樣的快速制備工藝。

    Abstract:

    Owing to the high strength and hardness, the mechanical polishing process usually can not remove the residual strain layer covered with the titanium-alloy specimen; the electropolishing process should be the ideal method for preparation of the Ti-alloy specimen for Electron Back Scatter Diffraction testing. After a mass of trial and error by rectifying some of the parameters from the selected processes, the convenient process for titanium-alloy EBSD specimen preparation was established finally.

    參考文獻(xiàn)
    相似文獻(xiàn)
    引證文獻(xiàn)
引用本文

李華清 李旭東 謝水生.鈦合金材料OIM試樣的電解拋光及制備工藝[J].鈦工業(yè)進(jìn)展,2006,23(6):28-32.

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歷史
  • 收稿日期:2005-11-11
  • 最后修改日期:2005-11-11
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  • 出版日期: